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TT230涂層測厚儀，TT230時代涂層測厚儀

涂層測厚儀TT230是一種超小型的涂層測厚儀，TT230涂層測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。體積小，測頭與儀器一體化，涂層測厚儀TT230特別適用于工程現(xiàn)場測量。

要功能
　　可進行零點校準及二點校準。
　　可對測頭進行基本校準。
　　設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO）、   標準偏差（S.DEV）。可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。
　　具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
　　自動關(guān)機功能。
　　刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行 新的測量。
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。

涂層測厚儀TT230主要技術(shù)指標　
　　測量原理：渦流法
　　測量范圍：1～1250μm
　　測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
　　　　　　　±[（1～3）%H+1.5] μm（二點校準）